сделать стартовой добавить в избранное
Поиск
Расширенный поиск

Адрес: 105275,
г .Москва, 5-ая улица
Соколиной горы д.22,
8 этаж.
Лаборатория ТСНК

Тел.: +7 (495) 228-1828,
         +7 (495) 365-4236, 
         +7 (495) 737-9944.

Факс: +7(495) 228-1828.

E-mail: info@x-ray.ru

На главную страницу Написать на e-mail
Новости
Обзоры и публикации
Оборудование
Область применения
Теxнологии
Техподдержка

Орел

ОПИСАНИЕ

Стационарный рентгеновский комплекс контроля изделий микроэлектроники  «ОРЕЛ» предназначен для технологического контроля микроэлектронных изделий и позволяет выявлять основные виды дефектов и изменения в конструкции электронных блоков.

ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

  • динамический контроль объектов размерами до 508х508 мм с геометрическим увеличением до 200раз;
  • послойная визуализация объектов контроля методом цифровой ламинографии;
  • автоматизированный анализ результатов контроля, включая поиск и идентификацию дефектов и отбраковку изделий;
  • электронная база данных по технологическим картам контроля и типам дефектов;

ДОПОЛНИТЕЛЬНАЯ ИНФОРМАЦИЯ

ОСОБЕННОСТИ

  • оригинальная конструкция всех узлов комплекса;
  • высокостабильный микрофокусный источник излучения; - цифровой рентгеновский преобразователь с высоким пространственным разрешением;
  • биологическая защита в соответствии с требованиями НРБ; - относительно низкая стоимость комплекса.

Ссылки по теме:

 Посмотреть описание изделия в формате PDF:
  Орел

Сертификаты


Сан-эпидем сертификат

Гигиеническая характеристика

Сертификат соответствия

Фото














3D изображение дефектных участков

Дефекты в пайке
Новости | Обзоры и публикации | Оборудование | Область применения | Теxнологии | Техподдержка | Создание и поддержка сайта
Copyright c 2005 TSNK Laboratory All rights reserved "Пророк Веб-Софт"