ОПИСАНИЕ
Стационарный рентгеновский комплекс контроля изделий микроэлектроники «ОРЕЛ» предназначен для технологического контроля микроэлектронных изделий и позволяет выявлять основные виды дефектов и изменения в конструкции электронных блоков.
ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
- динамический контроль объектов размерами до 508х508 мм с геометрическим увеличением до 200раз;
- послойная визуализация объектов контроля методом цифровой ламинографии;
- автоматизированный анализ результатов контроля, включая поиск и идентификацию дефектов и отбраковку изделий;
- электронная база данных по технологическим картам контроля и типам дефектов;
ДОПОЛНИТЕЛЬНАЯ ИНФОРМАЦИЯ
ОСОБЕННОСТИ
- оригинальная конструкция всех узлов комплекса;
- высокостабильный микрофокусный источник излучения; - цифровой рентгеновский преобразователь с высоким пространственным разрешением;
- биологическая защита в соответствии с требованиями НРБ; - относительно низкая стоимость комплекса.
Ссылки по теме:
- Статья "ОРЕЛ – комплекс для контроля изделий микроэлектроники с использованием рентгеновского излучения"
("Контроль и диагностика" (№2, 2007 г.)) - Статья "«ОРЕЛ» — комплекс для контроля изделий микроэлектроники"
("Технологии в электронной промышлености" (№ 2, 2006))
Посмотреть описание издел
ия в формате PDF:
Орел
Сертификаты
![]() Сан-эпидем сертификат | ![]() Гигиеническая характеристика | ![]() Сертификат соответствия |
Фото
![]() | ![]() | ![]() |
![]() | ![]() | ![]() |
![]() | ![]() | ![]() |
![]() | ![]() | ![]() |
![]() 3D изображение дефектных участков | ![]() Дефекты в пайке |





















